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精睿儀器
標(biāo)題摘要內(nèi)容
半導(dǎo)體材料
來源: | 作者:精睿領(lǐng)先 | 發(fā)布時(shí)間: 2022-03-22 | 1602 次瀏覽 | 分享到:
半導(dǎo)體的檢測(cè)與分析是一個(gè)介于基礎(chǔ)研究與應(yīng)用研究之間的設(shè)計(jì)內(nèi)容很廣而又不斷蓬勃發(fā)展的領(lǐng)域,在半導(dǎo)體材料的研究中,電阻率,載流子密度和遷移率是測(cè)試的關(guān)鍵參數(shù)。目前對(duì)半導(dǎo)體材料進(jìn)行物理和化學(xué)研究的方法有很多,如透射電鏡、拉曼光譜、電化學(xué)C-V、X射線雙晶衍射等。